成果名称：斜向几何公差测量仪

发 明 人：李伯奎;陈建兵;许兆美;曲建华;王玲;蒋素琴;王顺军;冯清付;畅皓皓

获批时间：2019/04/02

成果类型：发明授权

专 利 号：CN201610967669.7

成果简介

本发明公开了一种斜向几何公差测量仪，该测量仪包括底座(1)、三爪卡盘(13)、导轨(15)、顶针(16)、旋转导轨(29)、立柱(52)和测量台(41)，底座(1)上安装导轨(15)和旋转导轨(29)，导轨(15)的两端分别安装三爪卡盘(13)和顶针(16)，旋转导轨(29)上安装立柱(52)和旋转底盘(30)，立柱(52)上安装测量台(41)，测量台(41)上安装一号测量杆(68)和二号测量杆(59)，一号测量头(67)的小端垂直套在一号测量杆(68)一端的孔中，二号测量头(62)安装在二号测量杆(59)上成90度，整体构成斜向几何公差测量仪。本发明结构简单可靠，操作容易，旋转的导轨带动测量头沿直线或斜线运动，适应大部分斜向几何公差特征项目的测量。

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