成果名称：一种基于封闭式双极电极阵列的分析检测装置

发 明 人：张加栋;云山;郭探;何磊;朱秀芳;李彦兴;李华举;张世忠;陈静

获批时间：2019/05/24

成果类型：发明授权

专 利 号：CN201710280261.7

成果简介

本发明公开了一种基于封闭式双极电极阵列的分析检测装置，其特征在于：所述分析检测装置包括多个对称设置在承载层上的信号池(10)阵列、检测池(11)阵列，所述信号池(10)包括双极电极的信号采集端(5)以及驱动电极A(7)，所述检测池(11)包括双极电极的检测端(6)、驱动电极B(8)以及参比电极(9)，双极电极的信号采集端(5)、检测端(6)通过承载层上的导电层(2)相连接，驱动电极A(7)、驱动电极B(8)通过承载层上的导电层(2)与外界电源连接，本发明有效解决了现有封闭式双极电极在进行分析检测时，所采用的检测装置会导致双极电极上电位漂移的情况出现，从而影响分析检测精度问题。

联系人：陈帅

电话：0517-83591025

联系地址：江苏省淮安市枚乘东路1号

邮编：223005

电子邮箱：11000080@hyit.edu.cn